Khi kiểm định chất lượng ghi, công tác kiểm tra nghiệm thu cụm tâm ghi thì độ bằng phẳng mặt đế ray có dung sai cho phép là:

Khi kiểm định chất lượng ghi, công tác kiểm tra nghiệm thu cụm tâm ghi thì độ bằng phẳng mặt đế ray có dung sai cho phép là:
A. Đối với cả 2 khổ đường ≤ 2,0mm
B. Đối với cả 2 khổ đường ≤ 2,5mm
C. Đối với cả 2 khổ đường ≤ 3,0mm
D. Đối với khổ 1435mm ≤ 2,0mm, đối với khổ 1000mm ≤ 3,0mm
 

Ann Blue

New member
Hướng dẫn
Chọn A là đáp án đúng